Conferences
Handheld scanners: what are the metrological challenges?
Monday 30 March 2026 de 11:30 à 12:00 - 30m
Zone de pitch métrologie/photonique
Table ronde
Michael CANDELA
Responsable du Centre MECA3D
INSA LYON/INSAVALOR
DAVID LELONG
Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais
STELLANTIS
Olivier Longuemare
Sales Director – France / Benelux / Maghreb
FARO-CREAFORM (Ametek SAS)
Stéphane ROUSSEL
Ingénieur
CETIM
Jerome LOPEZ
Director
CFM - COLLEGE FRANCAIS DE METROLOGIE
Dimensional metrology in Industry 4.0
Thursday 2 April 2026 de 10:45 à 11:00 - 15m
Zone de pitch métrologie/photonique
Pitch
Stéphane ROUSSEL
Ingénieur
CETIM
