DAVID
LELONG

Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais / STELLANTIS

Scanners à main: quels enjeux métrologiques ?

lundi 30 mars 2026 de 11:30 à 12:00 - 30 min

Zone de pitch métrologie/photonique

Table ronde

Michael CANDELA

Responsable du Centre MECA3D

INSA LYON/INSAVALOR

DAVID LELONG

Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais

STELLANTIS

Olivier Longuemare

Sales Director – France / Benelux / Maghreb

FARO-CREAFORM (Ametek SAS)

Stéphane ROUSSEL

Ingénieur

CETIM

Jerome LOPEZ

Director

CFM - COLLEGE FRANCAIS DE METROLOGIE

Vice-presidente / Présidente / CRITICAL INFORMATION SYSTEMS THALES / S3NS

Dirigeant / IMAGINECAO

Directrice Communication / ALTEN EUROPE

CEO / ATMOSGEAR